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掃描測頭系列
提供最優的掃描性能 - 這是用戶可以從Leitz X系列掃描測頭所獲得的。從Leitz LSP-X1到Leitz LSP-X3和Leitz LSP-X5,提供了不同尺寸、不同性能的掃描探測系統,均可以實現離散掃描、自定心測量以及高速掃描任務,實現快速的精確形狀和輪廓的測量任務。

探測系統>>掃描測頭系列產品

  • 掃描式探測系統
    高精度、高效率完成復雜形狀測量的理想選擇。配備旋轉測座,為掃描測量提供了更大的靈活性;配備固定式測座,可支持超長與超重探針加長桿,為各種深孔的測量提供了便利。
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